X熒光光譜儀什么是 X 射線熒光分析? 十萬火急!
http://prxq.net.cn/ask/8240895.html
  • X熒光光譜儀 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì),可以粉碎后混測(cè),也可購(gòu)買有面掃描功能的儀器,掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問題,后再準(zhǔn)確定量。

  • X熒光光譜儀(1) 工作曲線法就是利用標(biāo)準(zhǔn)樣品先建立一條標(biāo)準(zhǔn)的校正曲線,測(cè)試時(shí)再根據(jù)這個(gè)曲線計(jì)算測(cè)量結(jié)果。用已知濃度的幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)強(qiáng)度,得到一系列相應(yīng)的強(qiáng)度信號(hào) ,強(qiáng)度和濃度對(duì)應(yīng)形成一系列的點(diǎn),通過軟件擬合成一條標(biāo)準(zhǔn)曲線,測(cè)試樣品時(shí),儀器測(cè)試到一個(gè)信號(hào)強(qiáng)度,對(duì)應(yīng)這條曲線,可以知道對(duì)應(yīng)的濃度. (2)標(biāo)準(zhǔn)工作曲線法相對(duì) FP 法來說確度較高,但是由于儀器本身存在背景強(qiáng)度,導(dǎo)致低于背景強(qiáng)度的樣品出現(xiàn)負(fù)值,標(biāo)準(zhǔn)品及強(qiáng)度漂移影響曲線的度、曲線的檢出限及曲線上限問題。

  • X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象,熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀,其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。

更多內(nèi)容
更多>

精選分享

按字母分類: A| B| C| D| E| F| G| H| I| J| K| L| M| N| O| P| Q| R| S| T| U| V| W| X| Y| Z| 0-9

增值電信業(yè)務(wù)經(jīng)營(yíng)許可證:粵B2-20191121         |         網(wǎng)站備案編號(hào):粵ICP備10200857號(hào)-23         |         高新技術(shù)企業(yè):GR201144200063         |         粵公網(wǎng)安備 44030302000351號(hào)

Copyright ? 2006-2024 深圳市天助人和信息技術(shù)有限公司 版權(quán)所有 網(wǎng)站統(tǒng)計(jì)