光譜儀靶材有哪些材質(zhì),要如何選配? 知道的請(qǐng)回答
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  • 光譜儀(1) 用熒光X射線法算出單位面積的質(zhì)量(目標(biāo)元素的附著量:g/m2)非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度(g/cm3)換算成厚度(mm)。實(shí)際鍍層密度不同的話,會(huì)產(chǎn)生誤差。 (2)測(cè)厚度可選用無(wú)標(biāo)樣的薄膜 FP 法,也可選用標(biāo)準(zhǔn)曲線法,標(biāo)準(zhǔn)曲線法需要樣品,其標(biāo)稱(chēng)值好覆蓋產(chǎn)品規(guī)格的上下限。 (3)測(cè)試厚度主要有兩種方法:發(fā)射法和吸收法,前者測(cè)鍍層元素的強(qiáng)度,后者測(cè)基體元素的強(qiáng)度。

  • 光譜儀采用塊體檢量線法,將樣品置于聚脂薄膜杯中,注意樣品量,好不能少于樣品杯的二分之一,其它液體樣品相同。

  • 光譜儀(1)由于 XRF 是靠檢測(cè)樣品所發(fā)出的熒光 X 射線來(lái)判斷測(cè)試樣品里面的元素含量的,對(duì)于已電鍍樣品,X 射線檢測(cè)結(jié)果多為表層信息,化學(xué)分析多為溶樣后測(cè)定整體,由于基體影響,所以兩個(gè)結(jié)果會(huì)有較大差距。 (3) 如果電鍍層中引入了有害物質(zhì)是地,要進(jìn)行管控采取化學(xué)分析的方法會(huì)比較可靠。

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