光譜儀儀器是否需要經(jīng)常維護(hù),要如何做?大家可以說一下嗎?
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  • 光譜儀(1) 用熒光X射線法算出單位面積的質(zhì)量(目標(biāo)元素的附著量:g/m2)非實際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度(g/cm3)換算成厚度(mm)。實際鍍層密度不同的話,會產(chǎn)生誤差。 (2)測厚度可選用無標(biāo)樣的薄膜 FP 法,也可選用標(biāo)準(zhǔn)曲線法,標(biāo)準(zhǔn)曲線法需要樣品,其標(biāo)稱值好覆蓋產(chǎn)品規(guī)格的上下限。 (3)測試厚度主要有兩種方法:發(fā)射法和吸收法,前者測鍍層元素的強(qiáng)度,后者測基體元素的強(qiáng)度。

  • 光譜儀(2) 分辨率是檢測器的問題.對于 ESI英飛思 的儀器而言,照射面積增大,效果比較好一點,比如說 可調(diào)光斑面積的 X 射線系統(tǒng),1MM 光斑的測試效果比 5MM 的測試效果差很多。 (3) 照射面積的大小直接影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,在所有測試條件不變的情況下,測試面積越大,測試的強(qiáng)度越高,和分辨率沒有關(guān)系,直接影響分辨率的只有狹縫(準(zhǔn)直器)、晶體和探測器。

  • 光譜儀(1)由于 XRF 是靠檢測樣品所發(fā)出的熒光 X 射線來判斷測試樣品里面的元素含量的,對于已電鍍樣品,X 射線檢測結(jié)果多為表層信息,化學(xué)分析多為溶樣后測定整體,由于基體影響,所以兩個結(jié)果會有較大差距。 (3) 如果電鍍層中引入了有害物質(zhì)是地,要進(jìn)行管控采取化學(xué)分析的方法會比較可靠。

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