熒光光譜分析XRF的檢測限是多少？哪位大神能告訴我？

熒光光譜分析金屬總是定量測不準(zhǔn)，而且偏差較大，特別是cd和pb。請問這是標(biāo)準(zhǔn)曲線做的不好或者制樣有問題，還是儀器本身的限制。(1) 測金屬的干擾項(xiàng)比較多吧,應(yīng)該是偏差大的原因之一(2) 基體是影響分析穩(wěn)定性的一個(gè)原因。塑膠類基體是CHO，他們對相關(guān)分析元素干擾影響比較小。金屬就大了。同時(shí)標(biāo)準(zhǔn)樣品質(zhì)量或有無也影響分析的準(zhǔn)確度。61.在以EDXRF儀器檢測電鍍產(chǎn)品時(shí),測出Pb含量在同一零件上不同測點(diǎn)有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 樣本:SUM24L快削鋼鍍Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每個(gè)零件測三點(diǎn)),為什么會有如此大之差距,相關(guān)對比測試也做過,還是找不到問題所在.根據(jù)你所說得情況，應(yīng)該是X射線部分穿通鍍層。且鍍層不均勻，所以出現(xiàn)鍍層薄含鉛高，反之含鉛低

熒光光譜分析這是在調(diào)研儀器時(shí)，儀器公司給我的，與大家分享。A下照射式光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺陷：優(yōu)點(diǎn)：可以分析純液態(tài)樣品；樣品下表面為分析面，液樣受熱后產(chǎn)生的氣泡對分析無影響。缺陷：分析粉末壓片樣品時(shí)一旦樣品破碎，污染檢測室、損毀光管！日常分析時(shí)碎屑落在光管Be窗上難于處理，不利于儀器維護(hù)；B上照射式光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺陷：缺陷：不能分析純液態(tài)樣品；分析液樣只能采用其他方法；優(yōu)點(diǎn)：有利于儀器維護(hù)保養(yǎng)，光管不受損；兩類儀器分析精度沒有區(qū)別。

熒光光譜分析(1) 要用分析重金屬元素的方法(2) 銅合金鉛，鎘，六價(jià)鉻和代物的測定可以采取酸溶消化，成水樣后用ICP,AAS或者UV來測定，話消解要密封消解，然后選擇你適合的儀器，看你經(jīng)濟(jì)實(shí)力定購買儀器，以上三種ICP作除了六價(jià)鉻外，所有元素，AAS作鉛，鎘，UV所有都可以作(3) 金屬基質(zhì)的產(chǎn)品如銅，鐵可以直接用XRF檢測，如果上有鍍層的話 可以把鍍層刮下來用分析純級的酸溶解后放在XRF上測兩者和值，這樣應(yīng)該比較準(zhǔn)確(4) 一般X-ray會建立好幾種曲線,常用的有五種:PE,PVC,焊錫,銅合金,鋁合金.這樣的話方便檢測.