英飛思科學(xué):XRF介紹
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  • XRF,即原子發(fā)射熒光分析法(X-ray fluorescence analysis),是一種常用的材料檢測手段。它通過高能x射線照射樣品,激發(fā)出原子的內(nèi)層電子從而產(chǎn)生各種元素的特征光譜,利用標準譜圖庫比對來確定元素種類組成并測定其含量。這種方法的優(yōu)勢在于方便快捷、非破壞性測量以及可以同時進行多元素的分析;但其缺點是只能測得元素的含量大于1%,對于微區(qū)分布或超低本底要求時需要更精密準確的儀器如ICP - XRF才能實現(xiàn) 。該方法廣泛應(yīng)用于金屬與合金的材料理化性能檢驗、環(huán)境監(jiān)測及等領(lǐng)域中,具有廣泛的應(yīng)用價值和普及程度。

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