朋友們,光譜儀進(jìn)行預(yù)抽真空,這段時(shí)間特別長,請問是什么原因?
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  • 光譜儀采用塊體檢量線法,將樣品置于聚脂薄膜杯中,注意樣品量,好不能少于樣品杯的二分之一,其它液體樣品相同。

  • 光譜儀(1) 取各種標(biāo)準(zhǔn)樣品來測試(例如銅合金、鋁合金、PVC、PE 樣品等),每種樣品用相對應(yīng)的方法來測試(例如銅合金就用金屬 FP 法來測試),計(jì)算與標(biāo)準(zhǔn)值之間差距。 每個(gè)樣品測試 3-5 次,取均值,然后對比所用的儀器的允許誤差就可以知道是否合格。文件上的誤差范圍只是一個(gè)參考,可以自己選擇一個(gè)對本公司的誤差范圍作為儀器的標(biāo)準(zhǔn)誤差允許范圍。 (2) 針對 EDXRF 目前有《半導(dǎo)體探測器 X 射線能譜儀通則》《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量 X 射線光譜方法》等相關(guān),另每個(gè)公司和機(jī)構(gòu)內(nèi)部都有自己一套的標(biāo)樣測試重復(fù)性和穩(wěn)定性要求。ESI英飛思 儀器標(biāo)準(zhǔn),PE 料 Cd,Pb,Hg,Cr 在 100ppm 時(shí)相對誤差不得大于 15%,Br,Cl 在 1000ppm 時(shí)相對誤差不得大于 30% 。

  • 光譜儀(1)由于 XRF 是靠檢測樣品所發(fā)出的熒光 X 射線來判斷測試樣品里面的元素含量的,對于已電鍍樣品,X 射線檢測結(jié)果多為表層信息,化學(xué)分析多為溶樣后測定整體,由于基體影響,所以兩個(gè)結(jié)果會有較大差距。 (3) 如果電鍍層中引入了有害物質(zhì)是地,要進(jìn)行管控采取化學(xué)分析的方法會比較可靠。

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