******們請賜教!光譜儀什么是 X 射線熒光分析?
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  • 光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對象,熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀,其針對的目標(biāo)不同。如測厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。

  • 光譜儀X 射線熒光分析儀的優(yōu)點(diǎn): (1)采樣方式靈敏,如 ESI英飛思 SEA 系列配有較大檢測室 ,多數(shù)試樣可直接進(jìn)行檢測??梢詼p少取樣帶來的損耗,對于已壓鑄好的機(jī)械零件可以做到無損檢測,而不毀壞樣品。 (2)測試速率高,可以在較少時(shí)間內(nèi)進(jìn)行大量樣品測試,分析結(jié)果可以通過計(jì)算機(jī)直接連網(wǎng)輸出。 (3)分析速度較快。 (4)對于純金屬可采用無標(biāo)樣分析,精度能達(dá)分析要求。 (5)不需要實(shí)驗(yàn)室與操作人員,不引入其它對環(huán)境有害的物質(zhì)。 X 射線熒光分析儀的缺點(diǎn): (1) 關(guān)于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到檢測。在用基本參數(shù)法測試時(shí),如果測試樣品里含有 C、H、O 等元素,會(huì)出現(xiàn)誤差。 (2)不能作為仲裁分析方法,檢測結(jié)果不能作為根據(jù),不能區(qū)分元素價(jià)態(tài)。 (3)對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金,需要代表性樣品進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線繪制,分析結(jié)果的是建立在標(biāo)樣化學(xué)分析的基礎(chǔ)上。 (4)標(biāo)準(zhǔn)曲線模型需求不時(shí)更新,在儀器發(fā)生變化或標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時(shí),標(biāo)準(zhǔn)曲線模型也要變化。

  • 光譜儀(1)準(zhǔn)直器的作用是將發(fā)散射線變成平行射線束,是由一系列間隔很小的金屬片制成。 (2) 準(zhǔn)直器由平行金屬板組成,其片間距越小,分辨率越高,強(qiáng)度也越小。(3) 光纖準(zhǔn)直器是光纖通信系統(tǒng)的基本光學(xué)器件,其作用是把光纖中發(fā)散的光束變成準(zhǔn)直光,使其以非常小的損耗耦合到光纖中。 (4) 準(zhǔn)直器有方型的,也有圓形的,是限制 X 射線對應(yīng)于樣品的測量作用范圍. 11.我們用的熒光分析儀攝像頭沒法用,看不到檢測樣品的部位,就是打開之后什么也不顯示,不知道是什么原因? 答:(1)可能是數(shù)據(jù)線接口松了,可以把接電腦的USB線撥掉再接上,或者查看CCD視頻卡線有無松動(dòng)。 (2) 完成以上步驟后,可以重啟電腦再檢查。 (3) 還有一種可能,早期 USB 線傳輸速度慢,如傳輸數(shù)據(jù)包大或過快有可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)阻塞,此時(shí)可以升級或放好樣品關(guān)閉視窗再檢測樣品。

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