請問:X熒光光譜儀ED‐XRF 的標(biāo)準(zhǔn)曲線法是什么?
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  • X熒光光譜儀X 射線是一種電磁波,波長比紫外線還要短,為 0.001‐ 10nm 左右。X 射線照射到 物質(zhì)上面以后,從物質(zhì)上主要可以觀測到以下三種 X 射線。熒光 X 射線、散射 X 射線、透過 X 射線,ESI英飛思NT 產(chǎn)品使用的是通過對一種熒光 X 射線的測定,從物質(zhì)中獲取元素信息(成分和膜厚)的熒光 X 射線法原理。物質(zhì)受到 X 射線的照射時(shí),發(fā)生元素所固有的 X 射線(固有 X 射線或者特征 X 射線)。熒光 X 射線裝置就是通過對該 X 射線的檢測而獲取元素信息。

  • X熒光光譜儀(1)熒光元素分析受限于標(biāo)樣難以制備或試樣的均勻性,多數(shù)只能做為一種品質(zhì)的管控方法,準(zhǔn)確度相對化學(xué)分析較低。 (2)素分析中的檢量線法就是以標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)為基礎(chǔ)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線分析,如果實(shí)際樣品和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)不一致,那么分析結(jié)果肯定也不會(huì)很準(zhǔn)確,只能做參考。 (3)用基本參數(shù)法測試金屬時(shí),果測試樣品里含有 C、H、O 等輕元素,會(huì)出現(xiàn)誤差,因?yàn)閮x器無法識(shí)別這些元素。

  • X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對象,熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀,其針對的目標(biāo)不同。如測厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。

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