朋友們,熒光光譜儀儀器是否需要經(jīng)常維護(hù),要如何做?
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  • 熒光光譜儀(1) 取各種標(biāo)準(zhǔn)樣品來(lái)測(cè)試(例如銅合金、鋁合金、PVC、PE 樣品等),每種樣品用相對(duì)應(yīng)的方法來(lái)測(cè)試(例如銅合金就用金屬 FP 法來(lái)測(cè)試),計(jì)算與標(biāo)準(zhǔn)值之間差距。 每個(gè)樣品測(cè)試 3-5 次,取均值,然后對(duì)比所用的儀器的允許誤差就可以知道是否合格。文件上的誤差范圍只是一個(gè)參考,可以自己選擇一個(gè)對(duì)本公司的誤差范圍作為儀器的標(biāo)準(zhǔn)誤差允許范圍。 (2) 針對(duì) EDXRF 目前有《半導(dǎo)體探測(cè)器 X 射線能譜儀通則》《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量 X 射線光譜方法》等相關(guān),另每個(gè)公司和機(jī)構(gòu)內(nèi)部都有自己一套的標(biāo)樣測(cè)試重復(fù)性和穩(wěn)定性要求。ESI英飛思 儀器標(biāo)準(zhǔn),PE 料 Cd,Pb,Hg,Cr 在 100ppm 時(shí)相對(duì)誤差不得大于 15%,Br,Cl 在 1000ppm 時(shí)相對(duì)誤差不得大于 30% 。

  • 熒光光譜儀(2) 分辨率是檢測(cè)器的問(wèn)題.對(duì)于 ESI英飛思 的儀器而言,照射面積增大,效果比較好一點(diǎn),比如說(shuō) 可調(diào)光斑面積的 X 射線系統(tǒng),1MM 光斑的測(cè)試效果比 5MM 的測(cè)試效果差很多。 (3) 照射面積的大小直接影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,在所有測(cè)試條件不變的情況下,測(cè)試面積越大,測(cè)試的強(qiáng)度越高,和分辨率沒(méi)有關(guān)系,直接影響分辨率的只有狹縫(準(zhǔn)直器)、晶體和探測(cè)器。

  • 熒光光譜儀(1)儀器本身并不需經(jīng)常維護(hù),可以間隔適當(dāng)時(shí)間對(duì)過(guò)濾網(wǎng)進(jìn)行清潔。 (2)如有儀器機(jī)械故障,應(yīng)聯(lián)系供應(yīng)商維修,不可私自拆開(kāi)裝置,以免弄巧成拙。

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