X熒光光譜儀它的結(jié)構(gòu)是什么樣子的? 有誰(shuí)可以回答一下嗎?
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  • X熒光光譜儀X 射線是一種電磁波,波長(zhǎng)比紫外線還要短,為 0.001‐ 10nm 左右。X 射線照射到 物質(zhì)上面以后,從物質(zhì)上主要可以觀測(cè)到以下三種 X 射線。熒光 X 射線、散射 X 射線、透過(guò) X 射線,ESI英飛思NT 產(chǎn)品使用的是通過(guò)對(duì)一種熒光 X 射線的測(cè)定,從物質(zhì)中獲取元素信息(成分和膜厚)的熒光 X 射線法原理。物質(zhì)受到 X 射線的照射時(shí),發(fā)生元素所固有的 X 射線(固有 X 射線或者特征 X 射線)。熒光 X 射線裝置就是通過(guò)對(duì)該 X 射線的檢測(cè)而獲取元素信息。

  • X熒光光譜儀(1) 工作曲線法就是利用標(biāo)準(zhǔn)樣品先建立一條標(biāo)準(zhǔn)的校正曲線,測(cè)試時(shí)再根據(jù)這個(gè)曲線計(jì)算測(cè)量結(jié)果。用已知濃度的幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)強(qiáng)度,得到一系列相應(yīng)的強(qiáng)度信號(hào) ,強(qiáng)度和濃度對(duì)應(yīng)形成一系列的點(diǎn),通過(guò)軟件擬合成一條標(biāo)準(zhǔn)曲線,測(cè)試樣品時(shí),儀器測(cè)試到一個(gè)信號(hào)強(qiáng)度,對(duì)應(yīng)這條曲線,可以知道對(duì)應(yīng)的濃度. (2)標(biāo)準(zhǔn)工作曲線法相對(duì) FP 法來(lái)說(shuō)確度較高,但是由于儀器本身存在背景強(qiáng)度,導(dǎo)致低于背景強(qiáng)度的樣品出現(xiàn)負(fù)值,標(biāo)準(zhǔn)品及強(qiáng)度漂移影響曲線的度、曲線的檢出限及曲線上限問(wèn)題。

  • X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象,熒光分析儀較常見(jiàn)的兩類(lèi)為膜厚儀與元素分析儀,其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。

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