光譜儀分析它的結(jié)構(gòu)是什么樣子的? 還請不吝賜
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  • 光譜儀分析X 射線是一種電磁波,波長比紫外線還要短,為 0.001‐ 10nm 左右。X 射線照射到 物質(zhì)上面以后,從物質(zhì)上主要可以觀測到以下三種 X 射線。熒光 X 射線、散射 X 射線、透過 X 射線,ESI英飛思NT 產(chǎn)品使用的是通過對一種熒光 X 射線的測定,從物質(zhì)中獲取元素信息(成分和膜厚)的熒光 X 射線法原理。物質(zhì)受到 X 射線的照射時,發(fā)生元素所固有的 X 射線(固有 X 射線或者特征 X 射線)。熒光 X 射線裝置就是通過對該 X 射線的檢測而獲取元素信息。

  • 光譜儀分析 (2) 測量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì),可以粉碎后混測,也可購買有面掃描功能的儀器,掃描后再確定哪個點可能有問題,后再準(zhǔn)確定量。

  • 光譜儀分析(1)應(yīng)明確理解,熒光分析存在干擾的元素有很多,每一種需要測試的元素都會受到其它某些元素的影響。 如鉛分析過程中常出現(xiàn)干擾,分析過程中常出現(xiàn)鍺和錸干擾。 (2) 常見干擾[經(jīng)驗] Cd:Br/Pb/Sn/Sb Pb:Br/As Hg:Br/Pb/Fe/Ca Cr:Cl Br:/Fe/Pb (3) 同時使用兩條以上的特征線進(jìn)行測分析。例如 Pb,需要選取 PbLa 和 PbLb 這兩條譜線進(jìn)行測試和判斷。

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