在線的各位知道嗎,熒光光譜照射面積增大會(huì)不會(huì)分辨率下降?
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  • 熒光光譜(1) 用熒光X射線法算出單位面積的質(zhì)量(目標(biāo)元素的附著量:g/m2)非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度(g/cm3)換算成厚度(mm)。實(shí)際鍍層密度不同的話,會(huì)產(chǎn)生誤差。 (2)測(cè)厚度可選用無(wú)標(biāo)樣的薄膜 FP 法,也可選用標(biāo)準(zhǔn)曲線法,標(biāo)準(zhǔn)曲線法需要樣品,其標(biāo)稱值好覆蓋產(chǎn)品規(guī)格的上下限。 (3)測(cè)試厚度主要有兩種方法:發(fā)射法和吸收法,前者測(cè)鍍層元素的強(qiáng)度,后者測(cè)基體元素的強(qiáng)度。

  • 熒光光譜(1)儀器本身并不需經(jīng)常維護(hù),可以間隔適當(dāng)時(shí)間對(duì)過(guò)濾網(wǎng)進(jìn)行清潔。 (2)如有儀器機(jī)械故障,應(yīng)聯(lián)系供應(yīng)商維修,不可私自拆開裝置,以免弄巧成拙。

  • 熒光光譜(1) 取各種標(biāo)準(zhǔn)樣品來(lái)測(cè)試(例如銅合金、鋁合金、PVC、PE 樣品等),每種樣品用相對(duì)應(yīng)的方法來(lái)測(cè)試(例如銅合金就用金屬 FP 法來(lái)測(cè)試),計(jì)算與標(biāo)準(zhǔn)值之間差距。 每個(gè)樣品測(cè)試 3-5 次,取均值,然后對(duì)比所用的儀器的允許誤差就可以知道是否合格。文件上的誤差范圍只是一個(gè)參考,可以自己選擇一個(gè)對(duì)本公司的誤差范圍作為儀器的標(biāo)準(zhǔn)誤差允許范圍。 (2) 針對(duì) EDXRF 目前有《半導(dǎo)體探測(cè)器 X 射線能譜儀通則》《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量 X 射線光譜方法》等相關(guān),另每個(gè)公司和機(jī)構(gòu)內(nèi)部都有自己一套的標(biāo)樣測(cè)試重復(fù)性和穩(wěn)定性要求。ESI英飛思 儀器標(biāo)準(zhǔn),PE 料 Cd,Pb,Hg,Cr 在 100ppm 時(shí)相對(duì)誤差不得大于 15%,Br,Cl 在 1000ppm 時(shí)相對(duì)誤差不得大于 30% 。

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